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N. Jeanvoine C. Holzapfel, F. Soldera, F. Mücklich „Microstructure Characterisation of Electrical Discharge Craters using FIB/SEM Dual Beam Techniques“ Advanced Engineering Materials 10 2008 10 973-977 DOI: 10.1002/adem.200800108 | PDF verfügbar published formated output



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