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N. Jeanvoine A. Velichko, C. Selzner, F. Mücklich „Nanotomography of Electrical Contacts – New Insights by High Resolution 3D Analysis of Local Material Degradation“ European Physical Journal: Applied Physics 49 2008 255 1-6 DOI: 10.1051/epjap/2009210 | PDF verfügbar published formated output



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