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A. Koblischka-Veneva M. R. Koblischka, F. Mücklich, T. Qu, Z. Han „Study of Grain boundary Properties in Ag-clad Bi-2212 Tapes by Multi-phase Electron Backscatter Diffraction Analysis“ Journal of Physics: Conference Series 94 2008   012011 presented at E-MRS spring meeting 2007, Strasbourg, Symposium J, “Interfacial nanostructures in ceramics: A multiscale approach” | DOI: 10.1088/1742-6596/94/1/012011 c | PDF verfügbar published formated output
A. Koblischka-Veneva M. R. Koblischka, T. Qu, Z. Han, F. Mücklich „Texture Analysis of Monofilamentary, Ag-sheathed (Pb,Bi)2Sr2Ca2Cu3Ox Tapes by Electron Backscatter Diffraction (EBSD)“ Physica C 463 2008 3 174-182 DOI: 10.1016/j.physc.2007.11.006 | PDF verfügbar published formated output



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