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F. Mücklich M. Engstler „Gefüge-Tomographie in der Mikro, Nano- und atomaren Skala“ Proceedings Industrielle Computertomografie Tagung   2010   15-20 ISBN 978-3-8322-9418-2 | PDF verfügbar published formated output
A. Velichko M. Engstler, P. Leibenguth, F. Mücklich „FIB-Tomografie für die 3D-Charakterisierung von komplexen Mikrostrukturen am Beispiel der quantitativen Untersuchungen von Graphitkeimbildung und Wachstumsmorphologie“ Proceedings Industrielle Computertomografie Tagung   2008   81-87 Shaker Verlag, Aachen, ISBN 978-3-8322-6949-4 published formated output



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Publica (build 111206), (c) Lehrstuhl für Funktionswerkstoffe 2006, Konzept und Betreuung: Daniel Henry