Stand: 21.6.2021, 15:37
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C. Daniel | F. Mücklich, J. Müller, P. Rehbein, V. Haas | „Charakterisierung periodischer Mikro-/Nano-Strukturierung zur Verschleißminimierung elektrischer Kontakte“ | Special Issue of Practical Metallography (in German) | 34 | 2003 | 323 - 330 | ISBN: 3-88355-313-1 | published |