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C. Daniel F. Mücklich, J. Müller, P. Rehbein, V. Haas „Charakterisierung periodischer Mikro-/Nano-Strukturierung zur Verschleißminimierung elektrischer Kontakte“ Special Issue of Practical Metallography (in German) 34 2003   323 - 330 ISBN: 3-88355-313-1 published formated output



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