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A. Velichko F. Mücklich „3D-Analysis of Complex Microstructures. Quantification and Classification by FIB/SEM-Nanotomography“ G.I.T. Imaging & Microscopy 3 2007   40-42   published formated output



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Publica (build 111206), (c) Lehrstuhl für Funktionswerkstoffe 2006, Konzept und Betreuung: Daniel Henry